ঢাবিতে ভর্তি পরীক্ষায় ডিজিটাল জালিয়াতি

0

ঢাকা বিশ্ববিদ্যাালয়ের (ঢাবি) বিজ্ঞান অনুষদভুক্ত ‘ক’ ইউনিটের ভর্তি পরীক্ষায় জালিয়াতির প্রক্সি ও ডিজিটাল জালিয়াতির অভী্যোগে ১২ জনের কারাদন্ড দিয়েছে ঢাকা জেলা প্রশাসনের ভ্রাম্যমান আদালত। মাস্টারকার্ডের মত ইলেক্ট্রনিক ডিভাইসে সিম কার্ড ঢুকিয়ে কেন্দ্রের বাইরে যোগাযোগ করে উত্তর সংগ্রহের সময় এদেরকে হাতে নাতে ধরা হয় থাকে। কানে ঢুকানো ছিল অতিক্ষুদ্র তারবিহীহিন হেডফোন। ঢাকা জেলা প্রশাসনের পক্ষে ভ্রাম্যমান আদালত পরিচালনা করেন নির্বাহী ম্যাজিস্ট্রেট তৌহীদ এলাহী।ভ্রাম্যমাণ আদালতের মাধ্যমে প্রত্যেককে ১৫ দিন করে বিনাশ্রম কারাদণ্ড দেওয়া হয়।

সাজাপ্রাপ্তরা হলেন- নাহিদ হাসান কাওসার, তানভীর হোসাইন, রফিকুল ইসলাম, খন্দকার মিরাজুল ইসলাম, এস এম জাকির হোসাইন, আবু হানিফ নোমান, আল ইমরান, নূরে আলম আরিফ, সৌমিকা প্রতিচী সাত্তার, আরিফা বিল্লাহ তামান্না, শাহ পরান ও আবুল বাশার।

আটককৃতদের মধ্যে মতিঝিল সরকারি বালিকা উচ্চ বিদ্যালয়, উদয়ন স্কুল অ্যান্ড কলেজ, শেখ বোরহান উদ্দিন কলেজ ও আইডিয়াল স্কুল অ্যান্ড কলেজের সদ্য এইচএসসি পাস করা কয়েকজন ছাত্র-ছাত্রী ছিলেন।

মন্তব্য করতে লগইন করুন অথবা নিবন্ধন করুন